JEOL: lanciato il microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo Schottky versioni JSM-IT800(i)/(is) - La Mescolanza

Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con piattaforma a tecnologia intelligente (Intelligence […]

SEM, Scanning Electron Microscopes

Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo - JSM-7610F - Jeol - per analisi / a videocamera digitale / ad altissima risoluzione

JSM-IT800 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, Products

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JSM-IT800 - JEOL (Germany) GmbH and Nordic (AB)

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Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo - JSM-F100 - Jeol - per analisi / ad alta risoluzione / per semiconduttore

Microscopio elettronico a scansione - JSM-7900F - Jeol - per analisi / di metrologia / ad alta risoluzione